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本发明公开了一种DDR快速测量方法，DDR内存在上系统平台前，先做一次相关的阻抗测试，通过测试工具检查内存单体的好坏，根据测试工具测试的结果，将好的内存上板测试。本发明利用测试工具的功能在测试前期快速的排查内存是否好坏，内存上系统前可以仪器...
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