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本发明公开了一种基于磁光成像法的缺陷检测方法，得到试件的磁光灰度图像，对磁光灰度图像进行窗口化，然后构建标记矩阵，遍历窗口化得到的每个像素块，根据像素块中像素值大于预设阈值的像素点数量，设置得到标记矩阵中的元素值，然后求得标记矩阵的连通域，...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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