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本发明涉及电子检测领域，尤其涉及一种电路板检测方法，本发明提供的电路板检测方法，包括以下步骤：通过探针治具获取至少一个待检测电路板的至少一个待检测信号；对所述至少一个待检测电路板的至少一个待检测信号进行检测，并输出与所述至少一个待检测信号对...该专利属于深圳市亚泰光电技术有限公司;深圳市纳晶微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市亚泰光电技术有限公司;深圳市纳晶微电子有限公司授权不得商用。