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本发明涉及一种金针类元件的引脚检测方法和系统，其中，方法包括以下步骤：获取电路板上待测金针类元件的图像；获取所述图像中各像素点的灰度值，根据所述灰度值从所述图像中定位金针类元件的引脚所在的区域，并将所述区域设为所述金针类元件的金针主体区域；...
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