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本发明涉及用于检测和可选地测量具有放电幅值的电气放电的装置、方法和系统，其中所述电气放电导致对应的光学辐射的放射。所述装置实施根据本发明的系统和方法，其中方法包括通过以下步骤测量电气放电：首先存储包括与电气放电的幅值和对应于该幅值的检测器参...
该专利属于CSIR公司所有，仅供学习研究参考，未经过CSIR公司授权不得商用。

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