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本发明提出一种电子设备的耗电测试方法及装置。其中，该方法包括：获取电子设备的型号信息，确定与型号信息的电子设备所对应的待测电子设备的测试场景；根据测试场景确定对应的应用程序和测试时间，并将应用程序安装至待测电子设备；在待测电子设备中运行应用...
该专利属于北京金山安全软件有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京金山安全软件有限公司授权不得商用。

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