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本发明提供一种热电元器件可靠性评价系统及方法，该系统包括：具备真空腔体的真空装置；用于装夹待测的热电元器件的样品测试装置，所述样品测试装置位于所述真空腔体内，且包括热源和热沉，所述热电元器件位于所述热源与热沉之间；用于控制所述样品测试装置中...
该专利属于中国科学院上海硅酸盐研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海硅酸盐研究所授权不得商用。

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