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本发明提供了一个综合测量系统及方法，用于测量和校准与对象或环境有关的参数。综合测量系统包括一个存储校准公式的存储器、一个检索来自传感器信息的通信模块、一个检索信息并随后生成校准信息的运算中心。...
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