下载一种计量芯片选型测试系统的技术资料

文档序号:12581225

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本发明公开一种计量芯片选型测试系统,该系统包括功率源、采集模块、计量芯片测试模块、数控电源模块、通讯模块、微处理器、接口转换模块和PC机测试系统;所述微处理器分别与通讯模块、接口转换模块和数控电源模块相连;所述计量芯片测试模块分别与采集模块...
该专利属于中国电力科学研究院;国家电网公司所有,仅供学习研究参考,未经过中国电力科学研究院;国家电网公司授权不得商用。

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