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本公开涉及一种用于检测晶体管失配的电路(1)，包括：用于生成基准信号(Vin)的信号发生器(4)，以及包括至少一对p沟道和n沟道晶体管的放大电路(5)，所述放大电路受到变化因素的影响，所述变化因素还影响位于同一集成电路(10)上的功能电路(...
该专利属于非盈利IMEC荷兰所有，仅供学习研究参考，未经过非盈利IMEC荷兰授权不得商用。

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