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一种基于隧穿晶体管结构的太赫兹传感器制造技术
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文档序号:12484019
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本发明提出了一种基于隧穿晶体管结构的太赫兹传感器,所述隧穿晶体管结构衬底为P型/N型时,离子注入形成的源区为P+型/N+型、离子注入形成的漏区为相应为N+型/P+型;在源区上方生长一层二氧化硅绝缘层和淀积一层多晶硅栅氧化层。源区的面积大于漏...
该专利属于南京大学所有,仅供学习研究参考,未经过南京大学授权不得商用。
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