温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种工业CT检测中小细节特征尺寸测量方法，在扫描获取的检测工件CT图像中，选取包含细节特征的细节特征区域以及无明显缺陷的参考区域，分别对细节特征区域和参考区域内的像素CT值进行计算，然后将细节特征区域内每个像素的CT值相对于参考区...
该专利属于中国兵器科学研究院宁波分院所有，仅供学习研究参考，未经过中国兵器科学研究院宁波分院授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。