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本发明提供了一种存储器的编程校验方法和编程校验装置，以解决编程校验结果不准确的问题。所述的方法包括：发送执行编程校验的数据读取指令，其中数据读取指令用于从选中存储单元中读取数据；依据数据读取指令，所述存储器的电压生成模块为选中存储单元提供预...
该专利属于北京兆易创新科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京兆易创新科技股份有限公司授权不得商用。

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