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用于射频多芯片集成电路封装的电磁干扰外壳制造技术
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下载用于射频多芯片集成电路封装的电磁干扰外壳的技术资料
文档序号:12350435
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一种特征涉及多芯片封装,该多芯片封装包括基板以及耦合至该基板的电磁干扰(EMI)屏蔽。至少一个集成电路被耦合至该基板的第一表面。EMI屏蔽包括配置成屏蔽该封装不受射频辐射影响的金属壳、耦合至该金属壳的内表面的至少一部分的介电层、以及多条信号...
该专利属于高通股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过高通股份有限公司授权不得商用。
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