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本发明提出一种定位片上系统时序逻辑错误、错误率的计算及其应用的方法，在定位片上系统时序错误时，在同一测试条件下，同一测试指令和/或数据通过PAD口输入P级扫描链、N级流水线以及Q级扫描链，通过控制扫描链使能信号实现对测试指令和/或数据的测试...
该专利属于上海新储集成电路有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海新储集成电路有限公司授权不得商用。

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