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本发明公开了一种摊铺厚度测量系统、摊铺机以及摊铺厚度测量方法，该摊铺厚度测量系统包括测厚传感器、测厚控制器、测厚输出装置；测厚传感器用于检测熨平板后沿相对于找平基准的高度或高度偏差，测厚控制器根据摊铺厚度初始值和测厚传感器检测到的高度或高度...
该专利属于戴纳派克（中国）压实摊铺设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过戴纳派克（中国）压实摊铺设备有限公司授权不得商用。

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