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本发明公开了一种芯片进入测试模式的保护方法和系统，应用于硅片上相邻的第一芯片和第二芯片，第一芯片和第二芯片间有划片槽，划片槽内设置有加密电路，方法包括：如果第一芯片检测到来自第二芯片的测试模式使能信号，产生验证信息和加密密钥发送给加密电路，...该专利属于大唐微电子技术有限公司;大唐半导体设计有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过大唐微电子技术有限公司;大唐半导体设计有限公司授权不得商用。