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发明人提供了一种SD卡测试方法，包括设备的IO口与SD卡的引脚连接，在测试模式下，通过设置IO口的电平的高低，改变SD卡与设备的连接引脚的状态，测试SD卡的状态或读取或写入的数据。涉及测试领域，具体设计SD卡测试领域。区别于现有技术，该方法...
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