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本发明公开了一种用于多温度测试的芯片自动测试方法，该方法选用ATE作为主要的测试激励施加和测量设备，选用高低温箱作为环境温度供给设备，采用上位机软件对ATE和高低温箱进行主控，实现定时调温，定时测试；测试后上位机软件负责对ATE传回的测试数...
该专利属于深圳市芯海科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市芯海科技有限公司授权不得商用。

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