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本发明属于可靠性及寿命试验中的加速贮存试验方法领域，具体涉及一种电子整机加速贮存试验方法。技术方案：本发明结合电子产品全寿命周期剖面综合分析，考虑了运输、温度、湿度等应力的影响，制定了等效自然贮存一年的综合应力加速贮存试验剖面，包括接装运输...该专利属于北京强度环境研究所;中国运载火箭技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过北京强度环境研究所;中国运载火箭技术研究院授权不得商用。