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基于时间相关单光子计数原理的X射线激发发射光谱仪，涉及闪烁材料检测用的光谱测试仪器。其特征在于：该光谱仪依次包括X射线源、光学耦合系统、单光子计数探测系统和计算机；光学耦合系统由透镜组及光纤构成，将X射线激发闪烁体产生的荧光通过透镜组聚焦到...
该专利属于井冈山大学所有，仅供学习研究参考，未经过井冈山大学授权不得商用。

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