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本发明公开了一种断短路两端式真空吸引测试机构及其方法，其主要包括测试基座，所述测试基座的上表面上设有方形的第一测试区、与第一测试区中其一边缘相抵靠的条形第二测试区、设于所述第一测试区和第二测试区上表面上的待测板、与所述待测板相邻设置且均匀设...
该专利属于柴英豪所有，仅供学习研究参考，未经过柴英豪授权不得商用。

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