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本发明提供一种芯片指令高速缓存失效的检测方法，所述方法为：1、在芯片指令高速缓存中预设复数个最小指令单元，2、根据宏函数的递归性，逐级创建宏函数单元，各级宏函数单元包裹有最小指令单元，且每一级宏单元不断的包裹前一级宏单元构成了一大函数，3、...
该专利属于福州瑞芯微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过福州瑞芯微电子有限公司授权不得商用。

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