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本实用新型提供一种基于LXI总线的数字测试模块,包括SRAM控制电路、驱动器、信号连接器、FPGA、LXI接口电路、触发模块、DDS模块。本实用新型采用直接数字频率合成器(DDS可控时钟)产生频率可变时钟,使模块能以灵活多变的数据速率执行测...该专利属于中国电子科技集团公司第十四研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国电子科技集团公司第十四研究所授权不得商用。
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本实用新型提供一种基于LXI总线的数字测试模块,包括SRAM控制电路、驱动器、信号连接器、FPGA、LXI接口电路、触发模块、DDS模块。本实用新型采用直接数字频率合成器(DDS可控时钟)产生频率可变时钟,使模块能以灵活多变的数据速率执行测...