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本实用新型涉及一种用于刑事侦查的痕迹比对显微镜，包括：基座；支撑架，底部与基座连接；还包括：两个载物台，分别安装在基座两边，分别用于放置两个待比对物件；两个物镜模块，设于支撑架两端且分别位于两个载物台上方，分别用于捕捉两个待比对物件的光学信...该专利属于上海良相智能化工程有限公司;上海良相电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海良相智能化工程有限公司;上海良相电子科技有限公司授权不得商用。