温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种食品异物无损探测方法，所述方法包含以下步骤：用太赫兹波照射食品的上表面或下表面，采集食品反射太赫兹波的数据；通过所述数据获取食品的太赫兹波谱图像；通过太赫兹波谱图像获取食品的断层成像；通过断层成像判断食品中是否存在异物以及异物...
该专利属于北京市农林科学院所有，仅供学习研究参考，未经过北京市农林科学院授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。