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用于重复地确定转台轴线(D)在坐标测量装置的装置坐标系统中的位态的方法，包括：a)在多个转台位置中通过KMG的测量系统来探触处于转台(3)上的检验体(9)并且由探触点确定所述转台轴线(D)在所述装置坐标系统(XKMG,YKMG,ZKMG,Z...
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