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本发明公开了一种X荧光光谱法对谷物中铬元素的快速测定方法，包括：1）取一定量谷物去皮，粉碎过目筛，得到谷物粉末；2）将所述谷物粉末装入样品杯并压实，形成待测样品；3）利用X荧光光谱法测量待测样品的X荧光强度；以及4）基于所述待测样品的X荧光...
该专利属于江苏天瑞仪器股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏天瑞仪器股份有限公司授权不得商用。

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