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一种栅介质层的形成方法和MOS晶体管的形成方法。其中,所述栅介质层的形成方法包括:提供第一半导体衬底;在所述第一半导体衬底上形成界面层;在所述界面层上形成金属层;在所述金属层上形成高K介质层;进行退火处理,所述界面层与所述第一半导体衬底接触...该专利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(上海)有限公司授权不得商用。
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一种栅介质层的形成方法和MOS晶体管的形成方法。其中,所述栅介质层的形成方法包括:提供第一半导体衬底;在所述第一半导体衬底上形成界面层;在所述界面层上形成金属层;在所述金属层上形成高K介质层;进行退火处理,所述界面层与所述第一半导体衬底接触...