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本发明公开了一种微纳米粒子性能参数的测量方法，包括：搭建一微纳米粒子性能参数的测量系统；该系统包括检测器皿，恒温控制调节器，超声模块，消声模块，信号分析处理模块，利用固液连续相介质中自由微纳米粒子对超声波的背向散射强度与入射强度比值，以及声...该专利属于华南师范大学;深圳市国华光电科技有限公司;深圳市国华光电研究院所有，仅供学习研究参考，未经过华南师范大学;深圳市国华光电科技有限公司;深圳市国华光电研究院授权不得商用。