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用于电缆局部放电检测的IGBT高压开关，涉及一种IGBT高压开关。本实用新型为了解决用于衰减振荡波局部放电检测法的半导体高压开关导通速度慢、供电困难、价格昂贵、体积大、均压手段欠佳等问题，所述电路由多个IGBT开关串联组成，每个IGBT开关...
该专利属于哈尔滨理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨理工大学授权不得商用。

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