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一种片上系统单粒子效应测试方法，包括对片上系统微处理器中的寄存器、高速数据缓存D-cache、整数运算单元ALU、浮点运算单元FPU、直接内存存取DMA、片外及片内存储器以及外设单元进行单粒子效应动态测试；主要是对以上几个功能模块进行动态测...
该专利属于西安交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安交通大学授权不得商用。

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