专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
德州仪器公司
>
集成电路及用于测试集成电路的方法技术
>技术资料下载
下载集成电路及用于测试集成电路的方法的技术资料
文档序号:11740351
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本文中揭示集成电路及用于测试集成电路的方法。集成电路(100)的实施例包含微处理器(102)及可由所述微处理器(102)存取的存储器(104)。所述集成电路(100)还包含可重新配置逻辑(106),其中用于测试所述微处理器(102)及存储器...
该专利属于德州仪器公司所有,仅供学习研究参考,未经过德州仪器公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。