专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
西南大学
>
基于忆阻交叉架构的图片均值学习电路制造技术
>技术资料下载
下载基于忆阻交叉架构的图片均值学习电路的技术资料
文档序号:11735461
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种基于忆阻交叉架构的图片均值学习电路,其特征在于:包括由忆阻器交叉架构构成的MMCA层和由忆阻器交叉架构构成的IMCA层,所述MMCA层与IMCA层之间通过CMOS单元连接;所述CMOS单元根据输入像素对应的阻值的均值和MMC...
该专利属于西南大学所有,仅供学习研究参考,未经过西南大学授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。