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本发明提供了一种天线方向图测量中的直线轨迹校正方法。该方法包括：规划与被测天线中心法线方向垂直的直线轨迹，在直线轨迹上规划多个测试点，参考天线将在多个测试点上依次位移，当参考天线沿直线轨迹从第一测试点向第二测试点位移后，记录参考天线相对于被...
该专利属于成都天衡电科科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都天衡电科科技有限公司授权不得商用。

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