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基于光延迟测量射频、微波或毫米波信号中的相位噪声制造技术
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下载基于光延迟测量射频、微波或毫米波信号中的相位噪声的技术资料
文档序号:11705658
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一种用于测量信号中的相位噪声的设备,所述设备从振荡器接收信号并使用光子信号处理电路对其进行处理。所述设备包括电路,该电路对输出信号进行处理以测量接收到的信号中的噪声并控制光子信号处理电路。光子信号处理电路包括产生偏振光的激光器和光子束合成器...
该专利属于光电波公司所有,仅供学习研究参考,未经过光电波公司授权不得商用。
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