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本发明涉及测量非晶体固体电解质界面(SEI)膜的厚度的方法。具体而言，本发明提供了一种利用激光拉曼光谱仪测量基体表面上SEI膜厚度的方法，该方法使用测量激光来测量拉曼光谱，使用消融激光来烧灼SEI膜，根据从所得拉曼光谱推导出的完全消融时间T...
该专利属于远景能源（江苏）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过远景能源（江苏）有限公司授权不得商用。

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