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本发明公开了一种nLDMOS耗尽管器件的工艺方法,对于高阈值电压的耗尽管,在器件的N阱和P阱形成以后,进行沟道区离子注入时,采用多步注入形式。其先采用P型杂质注入,再采用N型杂质注入。先进行P型杂质多步注入,其P型注入为垂直注入,最后耗尽管...该专利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华虹宏力半导体制造有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种nLDMOS耗尽管器件的工艺方法,对于高阈值电压的耗尽管,在器件的N阱和P阱形成以后,进行沟道区离子注入时,采用多步注入形式。其先采用P型杂质注入,再采用N型杂质注入。先进行P型杂质多步注入,其P型注入为垂直注入,最后耗尽管...