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本发明公开了一种基于同轴结构光的镜面零件三维形貌测量系统，包括投影仪、工业相机、中央处理器和光路系统；还公开了该测量系统的测量方法，包括标定阶段和测量阶段。本发明从结构和测量算法上解决反射率较强的镜面零件光学三维形貌测量的精度、效率和数据完...
该专利属于湖北文理学院所有，仅供学习研究参考，未经过湖北文理学院授权不得商用。

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