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提供一种微粒测量装置，能够精确检测在通道内流动的微粒的位置。该微粒测量装置具有用于利用光照射通道内流动的微粒的光照射单元以及用于检测从微粒发出的散射光的散射光检测器，其中该散射光检测器设有：用于收集从微粒发出的光的物镜，用于将由物镜收集的光...
该专利属于索尼公司所有，仅供学习研究参考，未经过索尼公司授权不得商用。

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