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本发明公开了一种基于idUCf五元结构的过程间静态切片提取方法，包括：对程序中的静态切片按照变量的类型、静态切片的位置进行表达，建立表达式；依据对变量的赋值，在所述表达式中进行倒推式搜索；提取所述变量的值等于所述赋值的所有静态切片。通过本发...
该专利属于上海精密计量测试研究所所有，仅供学习研究参考，未经过上海精密计量测试研究所授权不得商用。

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