下载微机电系统用可动质量块的制造方法的技术资料

文档序号:11569405

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本发明提供一种微机电系统用可动质量块的制造方法,其包括:提供具有正面和反面的单晶硅;在所述单晶硅的正面淀积牺牲层;在所述牺牲层上淀积多晶硅种子层;通过外延工艺在所述多晶硅种子层上生成多晶硅外延层;采用深硅刻蚀工艺自所述多晶硅外延层上表面有选...
该专利属于无锡华润上华半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过无锡华润上华半导体有限公司授权不得商用。

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