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多轨进料的旋转式晶粒检测设备制造技术
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文档序号:11487755
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本发明涉及一种多轨进料的旋转式晶粒检测设备,主要包括转动架、多个晶粒取放装置、多个进料装置、多个检测站以及多个分类站。其中,多个晶粒取放装置等距地环设于转动架上;多个进料装置、多个检测站和多个分类站等距地环设于该转动架的径向延伸方向上。其中...
该专利属于台北歆科科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过台北歆科科技有限公司授权不得商用。
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