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本发明涉及二维探测器阵列测量领域，提供一种二维探测器阵列刻度方法及系统，以解决大射野照射下辐射场剂量分布不均匀、剂量仪存在能量响应误差，从而导致剂量仪测量不准确的问题，该系统包括辐射源、模体、探测器阵列、与探测器阵列连接的数据处理模块，其中...
该专利属于四川中测辐射科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过四川中测辐射科技有限公司授权不得商用。

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