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本发明公开了一种激发荧光断层成像重建方法，包括以下步骤：S1：基于光传输模型和有限元理论，将成像对象的光学特性参数和解剖结构信息作为先验信息，建立表面的测量数据与成像对象内部荧光目标分布的系统方程；S2:对S1建立的系统方程进行预处理，使得...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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