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在封装结构的间断上的电绝缘的热接口结构制造技术
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文档序号:11404501
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本发明涉及一种用于制造电子半导体壳体(400)的方法,其中,在该方法中将电子芯片(100)与载体(102)耦合,通过封装结构(200)至少部分地封装电子芯片(100)和部分地封装载体(102),该封装结构具有间断(300),通过电绝缘的热接...
该专利属于英飞凌科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过英飞凌科技股份有限公司授权不得商用。
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