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本发明公开了一种微波凝视关联成像系统中时空随机辐射场的远场测量方法，其包括：在成像区域中选取M个测量点以及一参考点，在相同的辐照条件下对第一个测量点处的辐射场与参考点处的辐射场进行同步连续的无扰测量及记录；在不改变辐射系统构型与激励信号的情...
该专利属于中国科学技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学技术大学授权不得商用。

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