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所提出的方法包括用于管理用于多个数据存储的集成电路(IC)设计信息的方法和系统。每一个数据存储都被分成分区，允许对更大的数据集进行比较。将关键字分配给每一个数据集中的对象，以便确定在多个数据存储之间是否添加、删除或修改了对象，并且还确定了对...
该专利属于达索系统美国公司所有，仅供学习研究参考，未经过达索系统美国公司授权不得商用。

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