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本发明公开了一种反熔丝现场可编程门阵列编程状况的预估方法。该方法包括：将用于承载反熔丝现场可编程门阵列的晶元划分为多个区域；在所述多个区域内分别植入多个测试用反熔丝器件；对所述测试用反熔丝器件的上电极和下电极施加测试电压，为每个测试用反熔丝...
该专利属于中国电子科技集团公司第四十七研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第四十七研究所授权不得商用。

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