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本发明公开了一种能够检测磁颗粒聚集荧光的装置。本发明是利用小磁柱聚集荧光标记的磁颗粒，形成小磁柱圆面积大小且几乎无堆叠的磁颗粒面，利用长工作距离物镜收集由激光激发磁颗粒面发出的荧光，通过光电检测模块测量荧光强度，用计算机记录并处理数据。小磁...
该专利属于南开大学所有，仅供学习研究参考，未经过南开大学授权不得商用。

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